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裕太微電子股份有限公司發(fā)布新型芯片復位功能驗證方法

天眼查App顯示,裕太微電子股份有限公司近日在江蘇省蘇州市高新區(qū)科靈路78號4號樓201室公開了一項重要的發(fā)明專利,名為“一種芯片復位功能驗證方法及系統(tǒng)”。該專利由馬超力發(fā)明,申請?zhí)枮镃N202411250884.6,并于2024年9月6日公布。

該專利涉及芯片復位驗證技術領域,提供了一種創(chuàng)新的驗證方法。通過在測試用例基類中創(chuàng)建復位事件及其復位操作任務管理器,并在需要執(zhí)行復位操作的環(huán)境組件中配置復位事件觸發(fā)監(jiān)控器,將復位事件放入待觸發(fā)事件池。新測試用例在需要進行芯片復位功能驗證時,根據(jù)預設的復位時間點調用復位操作任務管理器進行復位操作后觸發(fā)待觸發(fā)事件池中對應的復位事件。復位事件觸發(fā)監(jiān)控器在監(jiān)測到對應的復位事件被觸發(fā)時對相應的環(huán)境組件進行復位后操作,隨后新測試用例生成激勵輸入至芯片中,以完成芯片復位功能驗證。

該方法的顯著優(yōu)點在于各環(huán)境組件可以獨立選擇性地進行復位后操作,使得芯片復位功能驗證過程更加靈活高效。這一創(chuàng)新技術有望在未來的芯片設計和測試中發(fā)揮重要作用,提升芯片的可靠性和性能。

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