天眼查App顯示,上海安路信息科技股份有限公司在2024年9月23日申請(qǐng)了一項(xiàng)名為“芯片的同步開關(guān)噪聲測(cè)試方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)”的發(fā)明專利,該專利已于2024年12月31日公布。這項(xiàng)技術(shù)由翟文婷和沈費(fèi)欽共同發(fā)明,旨在解決芯片測(cè)試中的效率問(wèn)題。
該方法的核心在于確定待測(cè)芯片的被測(cè)I/O和干擾源I/O,并在最大驅(qū)動(dòng)電流下進(jìn)行同步開關(guān)噪聲測(cè)試。通過(guò)這種方法,可以快速、準(zhǔn)確地確定其他驅(qū)動(dòng)電流下的芯片同步噪聲測(cè)試結(jié)果,無(wú)需逐一在每一驅(qū)動(dòng)電流條件下進(jìn)行測(cè)試。這不僅節(jié)省了大量的測(cè)試時(shí)間,還提高了測(cè)試的準(zhǔn)確性。
上海安路信息科技股份有限公司的這項(xiàng)創(chuàng)新技術(shù),預(yù)計(jì)將對(duì)芯片測(cè)試行業(yè)產(chǎn)生重要影響,特別是在提高測(cè)試效率和降低成本方面。該公司的這一技術(shù)突破,展示了其在芯片測(cè)試領(lǐng)域的領(lǐng)先地位和創(chuàng)新能力。
風(fēng)險(xiǎn)警告:本文根據(jù)網(wǎng)絡(luò)內(nèi)容由AI生成,內(nèi)容僅供參考,不應(yīng)作為專業(yè)建議或決策依據(jù)。用戶應(yīng)自行判斷和驗(yàn)證信息的準(zhǔn)確性和可靠性,本站不承擔(dān)可能產(chǎn)生的任何風(fēng)險(xiǎn)和責(zé)任。內(nèi)容如有問(wèn)題,可聯(lián)系本站刪除。