天眼查App顯示,深圳市德明利技術(shù)股份有限公司近日公開了一項(xiàng)名為“一種固態(tài)硬盤性能檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備和介質(zhì)”的發(fā)明專利。該專利涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,旨在提高固態(tài)硬盤性能檢測(cè)的效率和準(zhǔn)確性。
根據(jù)專利摘要,該方法應(yīng)用于控制終端,控制終端與多個(gè)測(cè)試終端連接,測(cè)試終端上安裝有待測(cè)試的固態(tài)硬盤。具體步驟包括:根據(jù)對(duì)固態(tài)硬盤進(jìn)行測(cè)試的各個(gè)測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試順序,依次將各測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試請(qǐng)求發(fā)送給多個(gè)測(cè)試終端;接收每個(gè)測(cè)試終端反饋的、針對(duì)每個(gè)測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果圖片;將測(cè)試結(jié)果圖片輸入至數(shù)據(jù)識(shí)別模型中,得到各測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù);針對(duì)每一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù),將測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)輸入至性能分析模型中,得到各固態(tài)硬盤對(duì)應(yīng)的性能檢測(cè)結(jié)果。
該技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)了測(cè)試結(jié)果圖片的自動(dòng)識(shí)別和批量處理,顯著提高了固態(tài)硬盤性能檢測(cè)的效率。這一創(chuàng)新方法有望在未來的固態(tài)硬盤生產(chǎn)和測(cè)試中發(fā)揮重要作用,推動(dòng)相關(guān)行業(yè)的技術(shù)進(jìn)步。
風(fēng)險(xiǎn)警告:本文根據(jù)網(wǎng)絡(luò)內(nèi)容由AI生成,內(nèi)容僅供參考,不應(yīng)作為專業(yè)建議或決策依據(jù)。用戶應(yīng)自行判斷和驗(yàn)證信息的準(zhǔn)確性和可靠性,本站不承擔(dān)可能產(chǎn)生的任何風(fēng)險(xiǎn)和責(zé)任。內(nèi)容如有問題,可聯(lián)系本站刪除。