天眼查App顯示,深圳佰維存儲(chǔ)科技股份有限公司于2024年9月30日申請(qǐng)了一項(xiàng)名為“內(nèi)存測(cè)試方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備”的發(fā)明專利,專利號(hào)為CN202411381137.6。該專利涉及半導(dǎo)體領(lǐng)域,旨在通過優(yōu)化內(nèi)存測(cè)試程序,提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。
根據(jù)專利摘要,該內(nèi)存測(cè)試方法通過獲取內(nèi)存的測(cè)試程序,并指定在內(nèi)存中的第一加載區(qū)域以及測(cè)試源代碼中的各符號(hào)引用與第一加載區(qū)域的相對(duì)地址。測(cè)試程序被加載到第一加載區(qū)域后,對(duì)內(nèi)存中未使用的剩余區(qū)域執(zhí)行預(yù)設(shè)的測(cè)試項(xiàng)目。這種方法將測(cè)試程序限制在第一加載區(qū)域,內(nèi)存中的剩余區(qū)域被視為物理上的連續(xù)空間,從而便于測(cè)試程序?qū)ζ溥M(jìn)行測(cè)試。
該專利的發(fā)明人包括孫成思、何瀚、王燦和陳穎霖,專利代理機(jī)構(gòu)為北京超凡宏宇知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司。專利的公布日期為2024年12月31日,目前處于公開狀態(tài)。
深圳佰維存儲(chǔ)科技股份有限公司位于廣東省深圳市南山區(qū),專注于信息存儲(chǔ)技術(shù)的研發(fā)與應(yīng)用。此次專利申請(qǐng)進(jìn)一步展示了公司在半導(dǎo)體領(lǐng)域的技術(shù)創(chuàng)新實(shí)力。
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